رحمن دشتی

در این مقاله یک روش تحلیلی بر مبنای فضای حالت مارکوف برای محاسبه قابلیت اطمینان سیستم های فتوولتائیک ارائه شده است. رفتار سیستم از دیدگاه قابلیت اطمینان با استفاده از روش تحلیلی مارکوف و آنالیزهای احتمال به کار رفته مورد بررسی قرار گرفته است. همچنین فرض بر این بوده که در سیستم تعمیرات وجود نداشته و در نتیجه یک از کار افتادگی منجر به از کار افتادن کل سیستم می گردد. در این راستا برای استخراج معادله قابلیت اطمینان از طریق نمودار فضای حالت، مدل قابلیت اطمینان سیستم ترسیم شده است. نتایج محاسبه قابلیت اطمینان سیستم در بازه های زمانی 1 سال و 20 سال با میانگین 8.5 ساعت کار در روز محاسبه و ارائه شده است. در نهایت با بررسی درصد تاثیر اجزا در قابلیت اطمینان سیستم فتوولتاییک، تاثیر گذار ترین اجزا مشخص شده است. این نکته می تواند در بهینه سازی و افزایش قابلیت اطمینان سیستم مورد استفاده قرار گیرد.