کوروش قیصری

برای طیف سنجی اتم میونی، از فیلم های نازک هیدروژنی استفاده می گردد. در این روش آزمایشی، از فیلم های تک لایه ای یا دو لایه ای استفاده می گردد. لایه ی دوم معمولاً از جنس دوتریم جامد انتخاب می شود. در این مقاله، اثر ناخالصی هیدروژن در دومین لایه، روی بهره اشعه ی ایکس میونی مطالعه شده است. به کمک معادلات سینتیک ذرات میون دار در لایه ها، با در نظر گرفتن ناخالصی هیدروژن، شدت اشعه ی ایکس محاسبه شده است. جهت تعیین حد استاندارد، نتایج حاصل از مقادیر مختلف ناخالصی با هم مقایسه شده اند.