مشخصات پژوهش

خانه /بررسی نقص در فیلم بس لایهای ...
عنوان بررسی نقص در فیلم بس لایهای مغناطیسی دو و سه بعدی
نوع پژوهش مقالات در همایش ها
کلیدواژه‌ها بلور فوتونیک مغناطیسی،فیلم بسلایهای،روش المان متناهی -
چکیده در این مقاله، خواص مغناطواپتیکی بلورهای فوتونیک مغناطیسی به همراه نقص در ساختار با ماده مغناطیسی و بدون ماده مغناطیسی - معرفی میگردد. معادلات ریاضی لازم برای کمیتهای مغناطواپتیکی و معادلات الکترومغناطیسی حاکم بر آنها بیان میشود. شبیه سازی یک ( برهی بلور فوتونیک مغناطیسی بسلایهای که دارای ساختار متناوب به صورت 4 MG)4 (M)2 (GM ( است، بر پایه روش المان متناهی به صورت دو و سه بعدی انجام میشود. در نهایت میدانهای الکتریکی انتشار یافته در ساختار بسلایهای در بازه بسامدی امواج مرئی در فضای دو بعدی و سه بعدی نشان داده شده است. مدهای نقص مغناطیسی و غیر مغناطیسی را در ساختار ایجاد نمودهایم و میزان عبور از ساختار بس لایه ای را بدست آوردهایم.
پژوهشگران ملیحه حسام الدینی (نفر اول)، تهمینه جلالی (نفر دوم)